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高溫四探針測試儀開售
日期：2025-04-26 00:51
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摘要：
高溫四探針測試儀開售
高溫四探針測試儀采用由四端測量方法測試電阻率系統與高溫試驗箱結合配置專用的高溫測試探針治具，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過先進的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線，是檢驗和分析材料質量的一種重要的工具。
生產企業、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數據的測量.
高溫四探針測試儀開售
高溫四探針測試儀采用由四端測量方法測試電阻率系統與高溫試驗箱結合配置專用的高溫測試探針治具，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過先進的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線，是檢驗和分析材料質量的一種重要的工具。
生產企業、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數據的測量.
